Układ do półautomatycznego pomiaru parametru Slit Density Index (SDI) dla próbek bezciśnieniowych
| Data dodania: | 2025-10-09 |
| Obszar tematyczny: | Inżynieria procesowa |
| Typ: | Patenty i zgłoszenia patentowe |
|
|
| Data dodania: | 2025-10-09 |
| Obszar tematyczny: | Inżynieria procesowa |
| Typ: | Patenty i zgłoszenia patentowe |
W celu jak najbardziej wygodnego korzystania przez Ciebie z naszej strony internetowej, my i nasi zaufani partnerzy stosujemy na niej różne technologie. Należą do nich te, które są niezbędne do prawidłowego funkcjonowania naszej strony internetowej, jak i te, które służą do komfortowego dostosowania naszej strony internetowej, wyświetlania zindywidualizowanych treści marketingowych (reklam), czy tworzenia anonimowych statystyk, tzw. pliki cookies.
Po kliknięciu w „Ustawienia COOKIES” w każdej chwili możesz dobrowolnie zdecydować, jaki zakres przetwarzania Twoich danych chcesz wybrać.
Naciskając na przycisk „Zezwól na wszystkie COOKIES” zgadzasz się na używanie plików cookies zgodnie z ustawieniami Twojej przeglądarki, a także na przetwarzanie Twoich danych osobowych przechowywanych za pomocą plików cookies w celu dostosowania dla Ciebie zawartości naszej strony internetowej w odniesieniu do Twoich preferencji oraz w celach statystycznych i marketingowych. W każdej chwili możesz odwołać swoją zgodę.
Więcej informacji, w tym te dotyczące prawa do cofnięcia zgód w zakresie przetwarzania Twoich danych osobowych oraz listę naszych zaufanych partnerów znajdziesz w naszej Polityce prywatności, w której znajdziesz informacje o podmiotach odpowiedzialnych za Twoje dane osobowe, w tym dane kontaktowe.
